TU Wien:Grundlagen der Elektronenmikroskopie VO (Stöger-Pollach)
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Daten[Bearbeiten | Quelltext bearbeiten]
| Vortragende | Michael Stöger-Pollach |
|---|---|
| ECTS | 3,0 |
| Alias | Electron Microscopy: Principles & Fundamentals (en) |
| Letzte Abhaltung | 2024S |
| Sprache | „bei bedarf in englisch“ ist kein zulässiger Sprachcode. |
| Mattermost | grundlagen-der-elektronenmikroskopie • Register • Mattermost-Infos |
| Links | tiss:133293 , Homepage |
| Masterstudium Materialwissenschaften | Modul Materialcharakterisierung - sonstige Wahlfächer |
Inhalt[Bearbeiten | Quelltext bearbeiten]
noch offen, bitte nicht von TISS/u:find oder Homepage kopieren, sondern aus Studierendensicht beschreiben.
Ablauf[Bearbeiten | Quelltext bearbeiten]
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Benötigte/Empfehlenswerte Vorkenntnisse[Bearbeiten | Quelltext bearbeiten]
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Vortrag[Bearbeiten | Quelltext bearbeiten]
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Übungen[Bearbeiten | Quelltext bearbeiten]
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Prüfung, Benotung[Bearbeiten | Quelltext bearbeiten]
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Dauer der Zeugnisausstellung[Bearbeiten | Quelltext bearbeiten]
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Zeitaufwand[Bearbeiten | Quelltext bearbeiten]
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Unterlagen[Bearbeiten | Quelltext bearbeiten]
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Tipps[Bearbeiten | Quelltext bearbeiten]
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Highlights / Lob[Bearbeiten | Quelltext bearbeiten]
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Verbesserungsvorschläge / Kritik[Bearbeiten | Quelltext bearbeiten]
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